Новые типы электроники базируются на развитии радиофотоники, которая исследует способы генерации, передачи и обработки СВЧ-сигналов с помощью оптического излучения. Это позволяет создавать более компактные электронные приборы и вычислительные устройства с существенно лучшими характеристиками по сравнению с классической электроникой.
Как пояснили в пресс-службе СПбГЭТУ "ЛЭТИ", предложенный учеными подход позволит с высокой точностью контролировать параметры фотонных интегральных схем, которые являются основой компонентной базы для радиофотоники. Причем, в отличие от предыдущих способов, делать это "безболезненно", не повреждая и не разрушая контрольные образцы микросхем.
- Мы разработали неразрушающий, быстрый и точный метод контроля качества фотонных интегральных схем с помощью измерения и дальнейшего анализа их передаточных характеристик, - рассказал доцент кафедры физической электроники и технологии Андрей Никитин. - Для применения нового метода в разные части пластины со схемами добавляются миниатюрные тестовые элементы. Анализ полученных зависимостей сигнализирует о наличии или отсутствии дефектов ФИС.
Полученные учеными данные были использованы для расчета передаточной характеристики тестового устройства, которая с высокой степенью точности совпала с экспериментальной.
- Поскольку в России отрасль производства фотонных интегральных схем начинает бурно развиваться, то предложенный нами метод может найти широкое применение при отработке технологических процессов. А также для оперативного контроля качества продукции при массовом производстве на предприятиях микроэлектронной и оптоэлектронной промышленности, - отметил профессор, руководитель лаборатории магноники и радиофотоники, Алексей Устинов.