Субтерагерцовый эллипсометр разработали ученые Аналитического и технологического исследовательского центра "Высокие технологии и наноструктурированные материалы" физфака НГУ и Института физики полупроводников имени А.В. Ржанова СО РАН.
"Преимущество разработанного нами устройства в том, что оно не требует физического контакта с исследуемым объектом. Достаточно направить на него терагерцовые волны и по изменению поляризации отраженного излучения определить, какова толщина и однородность покрытия", - цитируют РИА Новости сотрудника НГУ Сергея Кузнецова.
В основе прибора созданные учеными излучатель и высокоэффективные компактные тонкопленочные поляризационные элементы из искусственных материалов с необычными оптическими свойствами. Благодаря этим свойствам устройство при сканировании "видит" дефекты материала.
Прибор прошел испытания СибНИА имени Чаплыгина на композитном материале, из которого изготавливают фюзеляж и крылья для легкомоторной авиации. С его помощью на образце материала удалось выявить приповерхностные расслоения на ранних стадиях их образования.